Texas Instruments SN74LVTH18646APMG4
- SN74LVTH18646APMG4
- Texas Instruments
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- 逻辑 - 专用逻辑
- SN74LVTH18646APMG4 数据表
- 64-LQFP
- 64-LQFP
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无铅/符合RoHS - 15220
- 现货库存/授权经销商/工厂剩余库存
- 1年质量保障 》
- 点击获取费率
| 零件编号 SN74LVTH18646APMG4 |
| 类别 逻辑 - 专用逻辑 |
| 制造商 Texas Instruments |
| 说明 IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| 封装 64-LQFP |
| 串联 74LVTH |
| 工作温度 -40°C ~ 85°C |
| 安装类型 Surface Mount |
| 包装/外壳 64-LQFP |
| 供应商设备包 64-LQFP (10x10) |
| 钻头的数量 18 |
| 电源电压 2.7 V ~ 3.6 V |
| 逻辑类型 ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers |
SN74LVTH18646APMG4 保障



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